12 H 2340 测试探针-产品快照
- 品牌:
- 12 H 2340
- 型号:
- 12 H 2340
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产品介绍
12 H 2340 测试探针
Spring-loaded test probe for small centers with probe tip B, D 0.35 mm, gold-plated CuBe, 1.02 mm grid, 0.8 N, 1005-B-0,8 N-Au-0,35C,
12 H 2340
Spring-loaded test probes for small centers, type PTR Serie 1005. Grid 1.02 mm; Maximum travel: 3.8 mm. Working travel: 3.0 mm. Spring force at working travel (±20 %): 0.8 N. Spring prestress: 0.2 N. Maximum Current load: 3.0 A. Typical contact resistance: 20 mohm. Barrel: gold-plated bronze. Spring: gold-plated spring steel. Plunger: CuBe, gold-plated. Probe tip. 30°. For PCB traces, vias, solder joints and test pads. Type : 1005-B-0,8 N-Au-0,35C, probe with plunger tip D 0.35 mm
There are 42 piece in stock
Test probes
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